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OTSUKA大冢-超高速分光干擾式厚度計SF-3/300

　SF-3/300 OTSUKA大冢-超高速分光干擾式厚度計用非接觸的溫哈和樹脂的超高速實時、高精度的測量。OTSUKA大冢-超高速分光干擾式厚度計SF-3/300OTSUKA大冢-超高速分光干擾式厚度計SF-3/300OTSUKA大冢-超高速分光干擾式厚度計SF-3/300
OTSUKA大冢-超高速分光干擾式厚度計SF-3/1300

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OTSUKA大冢-超高速分光干擾式厚度計SF-3/BB

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OTSUKA大冢-非接觸光學厚度計AT-1500

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OTSUKA大冢-卓上型線掃描膜厚計

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OTSUKA大冢-非接觸光學厚度計AT-5000

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OTSUKA大冢-線掃描膜厚計

OTSUKA大冢-線掃描膜厚計在線薄膜生產(chǎn)現(xiàn)場能夠?qū)Ρ∧さ哪ず襁M行全幅、全長測量的裝置。通過在獨自的分光干涉法中組合新開發(fā)的高精度膜厚演算處理技術(shù)，以每*短0.01秒的測定間隔，可以進行500mm寬(1臺使用時)的薄膜的膜厚測定。OTSUKA大冢-線掃描膜厚計OTSUKA大冢-線掃描膜厚計
OTSUKA大冢-分光器FE-5000S

　FE-5000S OTSUKA大冢-分光器除了能夠高精度的薄膜解析的分光中，通過實現(xiàn)測量角度的自動可變機構(gòu)，也對應于所有種類的薄膜。除以往的旋轉(zhuǎn)檢光子法之外，通過設(shè)置相位差版的自動脫穿機構(gòu)，提高了測定精度。OTSUKA大冢-分光器FE-5000SOTSUKA大冢-分光器FE-5000SOTSUKA大冢-分光器FE-5000S
OTSUKA大冢-分光器FE-5000

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OTSUKA大冢-嵌入式膜厚監(jiān)視器

OTSUKA大冢-嵌入式膜厚監(jiān)視器 OTSUKA大冢-嵌入式膜厚監(jiān)視器高精度地實現(xiàn)具有波長依存性的多層膜測量！
OTSUKA大冢-膜厚測定用多頻道分光器MCPD series

MCPD series OTSUKA大冢-膜厚測定用多頻道分光器MCPD seriesOTSUKA大冢-膜厚測定用多頻道分光器MCPD seriesOTSUKA大冢-膜厚測定用多頻道分光器MCPD series
OTSUKA大冢-膜厚監(jiān)視器FE-300

FE-300 OTSUKA大冢-膜厚監(jiān)視器是一種通過簡單操作實現(xiàn)高精度光干涉法的膜厚測量的小型低價格的膜厚計。采用將必要的機器收納在機身部位的一體化體型外殼，實現(xiàn)了穩(wěn)定的數(shù)據(jù)的獲取通過獲取低價位的優(yōu)良反射率，也可以進行光學常數(shù)的分析。OTSUKA大冢-膜厚監(jiān)視器FE-300OTSUKA大冢-膜厚監(jiān)視器FE-300
OTSUKA大冢-反射性的分鐘光膜厚計FE-3000

FE-3000 OTSUKA大冢-反射性的分鐘光膜厚計利用顯微的微小領(lǐng)域的優(yōu)良反射率的取得，通過高精度的光干涉法的膜厚解析可能的裝置。多種多樣的樣品的膜厚·光，除了半導體領(lǐng)域的圖案樣品、透鏡和鉆孔之類的形狀樣品之外，還有表面粗糙度和膜厚不均的樣品。能夠進行定數(shù)分析。OTSUKA大冢-反射性的分鐘光膜厚計FE-3000OTSUKA大冢-反射性的分鐘光膜厚計FE-3000
OTSUKA大冢- 顯微分光膜厚計

OPTM series OTSUKA大冢- 顯微分光膜厚計OPTM seriesOTSUKA大冢- 顯微分光膜厚計OPTM seriesOTSUKA大冢- 顯微分光膜厚計OPTM series
OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統(tǒng)GP-7series1000

GP-7 series 1000 OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統(tǒng) 是光源單體和光學材料的配光的裝置.。 OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統(tǒng)GP-7series1000OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統(tǒng)GP-7series1000
OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統(tǒng)GP-7series600

GP-7 series 600 OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統(tǒng) 是光源單體和光學材料的配光的裝置.。 OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統(tǒng)GP-7series600OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統(tǒng)GP-7series600

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