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代理日本品牌：OTSUKA大塚電子（薄膜測(cè)厚儀、相位差膜設(shè)備等）、USHIO牛尾點(diǎn)光源、CCS檢查光源、Aitec艾泰克、REVOX萊寶克斯、ONOSOKKI小野測(cè)器、YAMATO雅馬拓、KOSAKA小坂臺(tái)階儀、SEN特殊光源、TSUBOSAKA壺坂電機(jī)、NEWKON新光、TOKISANGYO東機(jī)產(chǎn)業(yè)、tokyokeiso東京計(jì)裝、leimac雷馬克、MIKASA米卡薩勻膠機(jī)、COSMO科斯莫、SAKURAI櫻井無(wú)塵紙、TOE東京光電子、EYE巖崎UV燈管、SANKO山高、HOYA豪雅光源、日本IMV愛(ài)睦威地震儀、HOKUYO北陽(yáng)電機(jī)、SAKAGUCHI坂口電熱、ThreeBond三鍵膠水等.
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產(chǎn)品詳情
簡(jiǎn)單介紹：
OPTM series
OTSUKA大冢- 顯微分光膜厚計(jì)OPTM seriesOTSUKA大冢- 顯微分光膜厚計(jì)OPTM seriesOTSUKA大冢- 顯微分光膜厚計(jì)OPTM series
詳情介紹：
OPTM series
OTSUKA大冢- 顯微分光膜厚計(jì)
利用顯微分光的微小領(lǐng)域的**反射率測(cè)量，高精度的膜厚·光學(xué)常數(shù)解析可能的裝置。
各種薄膜、晶片、光學(xué)材料等涂層膜的厚度和多層膜可以非破壞、非接觸測(cè)量.。測(cè)定時(shí)間是能夠進(jìn)行1秒/point的高速測(cè)定的，即使是初次測(cè)定的，也搭載了能夠簡(jiǎn)單解析光學(xué)常數(shù)的軟件。
特長(zhǎng)：
OTSUKA大冢- 顯微分光膜厚計(jì)OPTM seriesOTSUKA大冢- 顯微分光膜厚計(jì)OPTM seriesOTSUKA大冢- 顯微分光膜厚計(jì)OPTM seriesOTSUKA大冢- 顯微分光膜厚計(jì)OPTM seriesOTSUKA大冢- 顯微分光膜厚計(jì)OPTM series
將膜厚測(cè)量所需的功能集中在頭部！
高精度的**反射率測(cè)量（多層膜厚，光學(xué)定數(shù)）
1點(diǎn)1秒以內(nèi)的高速測(cè)量
在顯微鏡下實(shí)現(xiàn)廣闊的測(cè)量波長(zhǎng)范圍的光學(xué)系統(tǒng)（紫外線-近紅外線）
區(qū)域傳感器的**機(jī)構(gòu)
即使是**次進(jìn)行光學(xué)定數(shù)解析的輕松解析危機(jī)
可定制測(cè)量序列的宏功能
對(duì)應(yīng)各種定制
仕様
仕様
構(gòu)成図
自動(dòng)XYステージタイプ
測(cè)定項(xiàng)目
- 絶対反射率測(cè)定
- 膜厚解析
- 光學(xué)定數(shù)解析（n：屈折率、ｋ：消衰係數(shù)）
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