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產品詳情
簡單介紹：
它是一種緊湊、低成本的薄膜厚度計，它通過簡單的操作實現(xiàn)了高精度光學干涉測量的薄膜厚度測量。
我們采用一體式外殼，將必要的設備安裝在主體中，實現(xiàn)了穩(wěn)定的數(shù)據(jù)采集。
通過以低廉的價格獲得**反射率，可以分析光學常數(shù)。
詳情介紹：
- 支持從薄膜到厚膜的各種薄膜厚度
- 使用反射光譜分析薄膜厚度
- 實現(xiàn)非接觸、非破壞的高精度測量，同時體積小、價格低
- 簡單的條件設置和測量操作！任何人都可以輕松測量薄膜厚度
- 通過峰谷法、頻率分析法、非線性*小二乘法、優(yōu)化法等，可以進行多種膜厚測量。
- 非線性*小二乘法薄膜厚度分析算法可以進行光學常數(shù)分析（n：折射率，k：消光計數(shù)）。
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