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本產(chǎn)品配備FIX模式，可自動優(yōu)化配置，實現(xiàn)約0.4秒的超高速測量。 這個測量時間是我們以前的型號的一半。 SR-LEDH將滿足高精度和高速測量的嚴格要求，適用于LED模組生產(chǎn)線的質量控制。特征 ■ 通過局域網(wǎng)進行高速測量（0.4秒），具有FIX模式。 ■ 通過我們新的**光學系統(tǒng)降低了靈敏度的均勻度。 ■ 機身超薄，適用于加工線和系統(tǒng)設備。 ■ 內(nèi)附原裝軟件開發(fā)工具包。（軟件開發(fā)工具包） * 軟件開發(fā)工具包（SDK） 該開發(fā)工具包為客戶開發(fā)LAN通信軟件提供了方便的工具。 SDK由開發(fā)LAN通信軟件所需的頭文件，庫，示例程序組成。 您可以通過調用模塊中的庫函數(shù)來開發(fā)網(wǎng)絡編程（套接字通信編程）。 客戶還可以使用網(wǎng)絡編程開發(fā)軟件，而無需SDK。 可以通過網(wǎng)絡中的PC控制SR-LEDH，也可以通過一臺PC控制多個SR-LEDH。 返回頁首 主要用途 ■ LE
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該產(chǎn)品是 Topcon 光譜輻射計中的一款新型**型號，能夠測量從 0.0005cd/m2 的超低亮度到 5，000，000cd/m2 的超高亮度的寬動態(tài)范圍。 除了新的FIX模式外，SR-LEDW還自動計算*佳測量設置，并縮短連續(xù)測量同一物體的測量時間。 該產(chǎn)品不僅可以在設計/開發(fā)部門高速，高精度地用于LED模組生產(chǎn)線的質量控制。
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該產(chǎn)品是 Topcon 光譜輻射計中的一款新型**型號，能夠測量從 0.0005cd/m2 的超低亮度到 5，000，000cd/m2 的超高亮度的寬動態(tài)范圍。 除了新的FIX模式外，SR-LEDW還自動計算*佳測量設置，并縮短連續(xù)測量同一物體的測量時間。 該產(chǎn)品不僅可以在設計/開發(fā)部門高速，高精度地用于LED模組生產(chǎn)線的質量控制。 半波段寬度為5nm或更小。
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大綱 SR-5A是新一代光譜儀，可以測量從超低亮度到超高亮度的高靈敏度和高速度。 測量角度1°下的測量范圍是超低亮度從0.0005 cd /m2擴展到500，000，000 cd / m2的高亮度范圍。 SR-5A無需使用外部ND濾光片即可測量超高亮度LED。 SR-5A通過更新光學系統(tǒng)和改進內(nèi)部系統(tǒng)算法，縮短了測量時間。 通過采用大尺寸彩色觸摸屏，顯著提高了可用性。
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大綱 2D光譜輻射計是采用1nm光譜技術進行高精度和**測量，具有強大的數(shù)據(jù)分析軟件。 通過分析包含頻譜等詳細信息的圖像，可以對各種對象和目的進行傳感。
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2D光譜輻射計是采用1nm光譜技術進行高精度和**測量，具有強大的數(shù)據(jù)分析軟件。 通過非破壞和非接觸，一種光譜儀儀器，有助于保持各種產(chǎn)品的高質量，因為它可以以500萬像素，170億cd / m為單位評估光源或物體的光譜特性2和1nm，如光源的波長特性，材料的光譜透射率特性。 2D光譜輻射計SR-5100分析物體的獨特光譜，不僅可以用于濾光片方法成像色度計或人眼無法評估的特征和發(fā)光產(chǎn)品，還可以用于物體的反射光和模擬評估。 它可用于廣泛的行業(yè)和應用，包括正在加速開發(fā)的微型/迷你LED顯示屏，相關材料，材料的紋理，護膚品，紡織印染，景觀等。
