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代理日本品牌：OTSUKA大塚電子（薄膜測厚儀、相位差膜設(shè)備等）、USHIO牛尾點光源、CCS檢查光源、Aitec艾泰克、REVOX萊寶克斯、ONOSOKKI小野測器、YAMATO雅馬拓、KOSAKA小坂臺階儀、SEN特殊光源、TSUBOSAKA壺坂電機(jī)、NEWKON新光、TOKISANGYO東機(jī)產(chǎn)業(yè)、tokyokeiso東京計裝、leimac雷馬克、MIKASA米卡薩勻膠機(jī)、COSMO科斯莫、SAKURAI櫻井無塵紙、TOE東京光電子、EYE巖崎UV燈管、SANKO山高、HOYA豪雅光源、日本IMV愛睦威地震儀、HOKUYO北陽電機(jī)、SAKAGUCHI坂口電熱、ThreeBond三鍵膠水等.
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DLS-6500series OTSUKA大冢- 動態(tài)光散射光度計 可測量使用動態(tài)光散射法的粒子直徑、粒子直徑分布（粒徑、粒徑分布）。 OTSUKA大冢- 動態(tài)光散射光度計DLS-6500seriesOTSUKA大冢- 動態(tài)光散射光度計DLS-6500seriesOTSUKA大冢- 動態(tài)光散射光度計DLS-6500series
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ELSZ-2000S OTSUKA大冢- 粒徑·分子量測量系統(tǒng)ELSZ-2000SOTSUKA大冢- 粒徑·分子量測量系統(tǒng)ELSZ-2000SOTSUKA大冢- 粒徑·分子量測量系統(tǒng)ELSZ-2000S
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nanoSAQLA OTSUKA大冢- 多檢體納米粒子直徑測量系統(tǒng)nanoSAQLAOTSUKA大冢- 多檢體納米粒子直徑測量系統(tǒng)nanoSAQLAOTSUKA大冢- 多檢體納米粒子直徑測量系統(tǒng)nanoSAQLA
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DLS-8000series OTSUKA大冢- 動態(tài)光散射光度計 用動態(tài)光散射法的粒子直徑·粒子直徑分布（粒徑·粒徑分布）測量和使用靜光散射法的優(yōu)良分子量·慣性半徑·**膽量系數(shù)的測量。OTSUKA大冢- 動態(tài)光散射光度計DLS-8000seriesOTSUKA大冢- 動態(tài)光散射光度計DLS-8000series
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ELSZ-2000S OTSUKA大冢- 電位測量系統(tǒng) OTSUKA大冢- 粒徑·分子量測量系統(tǒng)ELSZ-2000SOTSUKA大冢- 粒徑·分子量測量系統(tǒng)ELSZ-2000S
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它是一種可以使用小角度光散射方法在原位實時分析聚合物和薄膜結(jié)構(gòu)的設(shè)備。與使用 X 射線或中子的設(shè)備相比，可以評估更大的結(jié)構(gòu)（微米級）。
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可以使用動態(tài)光散射法和使用靜態(tài)光散射法測量優(yōu)良分子量/慣性半徑/**維里系數(shù)的粒度/粒度分布（粒度/粒度分布）。
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HS-1000 OTSUKA大冢-高靈敏度分光放射輝度計 從低亮度到高亮度可以高速·高精度的測量的分光輻射亮度計。 使用電子冷卻型的線性陣列傳感器，通過大冢電子獨自的分光光學(xué)設(shè)計和信號處理電路的寬亮度范圍和波長域，實現(xiàn)了低噪聲的高精度的測量。OTSUKA大冢- 高靈敏度分光放射輝度計HS-1000OTSUKA大冢- 高靈敏度分光放射輝度計HS-1000OTSUKA大冢- 高靈敏度分光放射輝度
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MCPD-9800/6800 OTSUKA大冢- 多通道分光器MCPD-9800/6800OTSUKA大冢- 多通道分光器MCPD-9800/6800OTSUKA大冢- 多通道分光器MCPD-9800/6800
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它是一種延遲測量設(shè)備，支持所有類型的薄膜，例如用于 OLED 的偏光板、層壓延遲膜和帶有 IPS 液晶延遲膜的偏光板。 實現(xiàn)與超高Re.60000 nm兼容的高速、高精度測量。 可以“無損、無剝離”地測量薄膜的層壓狀態(tài)。 此外，它還配備了簡單的軟件和校正功能，支持因樣品重新定位而導(dǎo)致的錯位，可輕松實現(xiàn)高精度測量。
