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    • QVH302P1L-E QVH404P1L-E QVH606P1L-E 高分解能、高精度スケールを搭載した高精度モデルです。 測(cè)定物に瞬時(shí)にピント合わせが可能なトラッキングオートフォーカス搭載モデルを設(shè)定、大幅なスループット向上が可能です。 XY本體駆動(dòng)とストロボ照明を同期させることにより、ステージが停止しないノンストップ畫像測(cè)定を行い、圧倒的に測(cè)定時(shí)間を短縮できるストリーム機(jī)能を裝備することが可能です。 汎用性の高い白色LED照明モデルとエッジ検出能力を高めたRGBカラーLED 照明をラインアップしました。 測(cè)定機(jī)本體溫度センサと測(cè)定物溫度センサを用いた自動(dòng)溫度補(bǔ)正機(jī)能を標(biāo)準(zhǔn)搭載しています。
    • QV-U404P1N-D QV-U404T1N-D 光學(xué)レンズで測(cè)定物を拡大撮像。軽薄短小な電子半導(dǎo)體部品、微小な精密加工品醫(yī)療機(jī)器部品などの測(cè)定に有用性を示します。 非接觸測(cè)定のため、測(cè)定物へのダメージの恐れがありません。清浄度が求められる電子半導(dǎo)體部品、樹脂成形品などの軟質(zhì)物、プレス成形品などの薄物の測(cè)定に適しています。 培われた畫像処理技術(shù)と高速ステージ制御による高スルー
    • QV-U404P1N-D QV-U404T1N-D 光學(xué)レンズで測(cè)定物を拡大撮像。軽薄短小な電子半導(dǎo)體部品、微小な精密加工品醫(yī)療機(jī)器部品などの測(cè)定に有用性を示します。 非接觸測(cè)定のため、測(cè)定物へのダメージの恐れがありません。清浄度が求められる電子半導(dǎo)體部品、樹脂成形品などの軟質(zhì)物、プレス成形品などの薄物の測(cè)定に適しています。 培われた畫像処理技術(shù)と高速ステージ制御による高スループット測(cè)定が可能。測(cè)定項(xiàng)目が多い、あるいは量産される測(cè)定物の工程管理に適しています。 高精度な非接觸高さ測(cè)定が可能です高性能な畫像オートフォーカスや非接觸変位センサにより、高精度な高さ測(cè)定が可能です。 タッチトリガープローブとの併用で、測(cè)定物を回転させずに任意の高さで側(cè)面も測(cè)定でき、従來は困難であった立體物の測(cè)定も可能です。 QVシリーズは高性能畫像オートフォーカスを標(biāo)準(zhǔn)裝備しており、畫像オ
    • QV-L202Z1L-D QV-L404Z1L-D QVT1-L202Z1L-D QVT1-L404Z1L-D 機(jī)能を凝縮したコストパフォーマンスに優(yōu)れるCNC畫像測(cè)定機(jī)です。 カラーカメラと交換式ズームレンズ採(cǎi)用により使い勝手が向上しました。 タッチプローブ搭載機(jī)は、非接觸と接觸測(cè)定をシームレスに実現(xiàn)しました。 ズーム比7倍(対物レンズ交換による*大ズーム比14倍)により
    • QV-L202Z1L-D QV-L404Z1L-D QVT1-L202Z1L-D QVT1-L404Z1L-D 機(jī)能を凝縮したコストパフォーマンスに優(yōu)れるCNC畫像測(cè)定機(jī)です。 カラーカメラと交換式ズームレンズ採(cǎi)用により使い勝手が向上しました。 タッチプローブ搭載機(jī)は、非接觸と接觸測(cè)定をシームレスに実現(xiàn)しました。 ズーム比7倍(対物レンズ交換による*大ズーム比14倍)により
    • QV-L202Z1L-D QV-L404Z1L-D QVT1-L202Z1L-D QVT1-L404Z1L-D 機(jī)能を凝縮したコストパフォーマンスに優(yōu)れるCNC畫像測(cè)定機(jī)です。 カラーカメラと交換式ズームレンズ採(cǎi)用により使い勝手が向上しました。 タッチプローブ搭載機(jī)は、非接觸と接觸測(cè)定をシームレスに実現(xiàn)しました。 ズーム比7倍(対物レンズ交換による*大ズーム比14倍)により
    • QV-L202Z1L-D QV-L404Z1L-D QVT1-L202Z1L-D QVT1-L404Z1L-D 機(jī)能を凝縮したコストパフォーマンスに優(yōu)れるCNC畫像測(cè)定機(jī)です。 カラーカメラと交換式ズームレンズ採(cǎi)用により使い勝手が向上しました。 タッチプローブ搭載機(jī)は、非接觸と接觸測(cè)定をシームレスに実現(xiàn)しました。 ズーム比7倍(対物レンズ交換による*大ズーム比14倍)により、低倍での観察、簡(jiǎn)易測(cè)定から、高倍での微細(xì)測(cè)定まで幅広く対応可能です。 74 mmの作動(dòng)距離で衝突の不安を和らげ、測(cè)定ワークや治具設(shè)計(jì)の自由度が広がり安心して測(cè)定できます。(対物レンズZ-Objective 1×裝著時(shí))
    • QV-X302P1L-E QV-X404P1L-E QV-X606P1L-E ストロボスナップ機(jī)能が標(biāo)準(zhǔn)搭載され、高速測(cè)定が可能となったクイックビジョンの上位モデルです。 測(cè)定物に瞬時(shí)にピント合わせが可能なトラッキングオートフォーカス搭載モデルを設(shè)定、大幅なスループット向上が可能です。 XY本體駆動(dòng)とストロボ照明を同期させることにより、ステージが停止しないノンストップ畫像測(cè)定を行
    • QV-X302P1L-E QV-X404P1L-E QV-X606P1L-E ストロボスナップ機(jī)能が標(biāo)準(zhǔn)搭載され、高速測(cè)定が可能となったクイックビジョンの上位モデルです。 測(cè)定物に瞬時(shí)にピント合わせが可能なトラッキングオートフォーカス搭載モデルを設(shè)定、大幅なスループット向上が可能です。 XY本體駆動(dòng)とストロボ照明を同期させることにより、ステージが停止しないノンストップ畫像測(cè)定を行い、圧倒的に測(cè)定時(shí)間を短縮できるストリーム機(jī)能を裝備することが可能です。 QV-X302P1L-E QV-X404P1L-E QV-X606P1L-E ストロボスナップ機(jī)能が標(biāo)準(zhǔn)搭載され、高速測(cè)定が可能となったクイックビジョンの上位モデルです。 測(cè)定物に瞬時(shí)にピント合わせが可能なトラッキングオートフォーカス搭載モデルを設(shè)定、大幅なスループット向上が可能で
    • ストロボスナップ機(jī)能が標(biāo)準(zhǔn)搭載され、高速測(cè)定が可能となったクイックビジョンの上 QV-X302P1L-E QV-X404P1L-E QV-X606P1L-E ストロボスナップ機(jī)能が標(biāo)準(zhǔn)搭載され、高速測(cè)定が可能となったクイックビジョンの上位モデルです。 測(cè)定物に瞬時(shí)にピント合わせが可能なトラッキングオートフォーカス搭載モデルを設(shè)定、大幅なスループット向上が可能です。 XY本體駆動(dòng)とストロボ照明を同期させることにより、ステージが停止しないノンストップ畫像測(cè)定を行い、圧倒的に測(cè)定時(shí)間を短縮できるストリーム機(jī)能を裝備することが可能です。
    • PJ-P1010 PJ-H30A1010B PJ-H30A2010B PJ-H30A1017B PJ-H30A3017B PJ-H30D1010B PJ-H30D2010B PJ-H30D2017B PJ-H30D3017B 未経験者でも “直感的に扱える“ 投影機(jī)の特長(zhǎng)を生かしつつ「照明光源LED化」「冷卻ファンレス化」により、高耐久性?省エネ性に優(yōu)れた測(cè)定投影機(jī)。 製造加工現(xiàn)場(chǎng)といった従來よりも本體にとって悪い環(huán)境に一歩踏み込んだ場(chǎng)所でも、安定した寸法測(cè)定や角度測(cè)定を提供。 無(wú)段階ボリューム調(diào)光:従來2段階調(diào)光であった照明を、無(wú)段階ボリューム調(diào)光に変更しました。弱い光から強(qiáng)い光まで多様な照明光を作り出すことが可能となり、被検物の表面性狀や色に応じて適度な照度で照射できるようになりました。 視認(rèn)性の高いデジタル表示:全機(jī)種標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)
    • PJ-H30A1010B PJ-H30A2010B PJ-H30A1017B PJ-H30A3017B PJ-H30D1010B PJ-H30D2010B PJ-H30D2017B PJ-H30D3017B JIS規(guī)格 B 7184:1999 [測(cè)定投影機(jī)] に準(zhǔn)拠。 (3.0+0.02L)μmの高精度を?qū)g現(xiàn)したハイエンドモデル。 φ306mmスクリーンと
    • PJ-H30A1010B PJ-H30A2010B PJ-H30A1017B PJ-H30A3017B PJ-H30D1010B PJ-H30D2010B PJ-H30D2017B PJ-H30D3017B JIS規(guī)格 B 7184:1999 [測(cè)定投影機(jī)] に準(zhǔn)拠。 (3.0+0.02L)μmの高精度を?qū)g現(xiàn)したハイエンドモデル。 φ306mmスクリーンと
    • PJ-H30A1010B PJ-H30A2010B PJ-H30A1017B PJ-H30A3017B PJ-H30D1010B PJ-H30D2010B PJ-H30D2017B PJ-H30D3017B JIS規(guī)格 B 7184:1999 [測(cè)定投影機(jī)] に準(zhǔn)拠。 (3.0+0.02L)μmの高精度を?qū)g現(xiàn)したハイエンドモデル。 φ306mmスクリーンと
    • PJ-H30A1010B PJ-H30A2010B PJ-H30A1017B PJ-H30A3017B PJ-H30D1010B PJ-H30D2010B PJ-H30D2017B PJ-H30D3017B JIS規(guī)格 B 7184:1999 [測(cè)定投影機(jī)] に準(zhǔn)拠。 (3.0+0.02L)μmの高精度を?qū)g現(xiàn)したハイエンドモデル。 φ306mmスクリーンと
    • PJ-H30A1010B PJ-H30A2010B PJ-H30A1017B PJ-H30A3017B PJ-H30D1010B PJ-H30D2010B PJ-H30D2017B PJ-H30D3017B JIS規(guī)格 B 7184:1999 [測(cè)定投影機(jī)] に準(zhǔn)拠。 (3.0+0.02L)μmの高精度を?qū)g現(xiàn)したハイエンドモデル。 φ306mmスクリーンと
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