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Otsuka大塚電子線(xiàn)掃描膜厚度計(jì)離線(xiàn)型 該設(shè)備可離線(xiàn)輕松進(jìn)行表面厚度不均勻性檢測(cè)，用于薄膜等的研發(fā)和質(zhì)量控制的抽查。 整個(gè)表面可以快速、高精度地測(cè)量。
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Otsuka大塚電子在線(xiàn)膜厚測(cè)量厚度計(jì)塔瑪薩崎電子代理銷(xiāo)售 該裝置可以測(cè)量薄膜的整個(gè)寬度和總長(zhǎng)度，用于在線(xiàn)薄膜生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)。 通過(guò)將新開(kāi)發(fā)的高精度薄膜厚度計(jì)算技術(shù)與專(zhuān)有光譜干涉方法相結(jié)合，可以在每 0.01 秒的測(cè)量間隔內(nèi)測(cè)量 500mm 寬度（使用一臺(tái)）的薄膜厚度。
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Otsuka大塚電子 RETS延遲測(cè)量設(shè)備 它是一種延遲測(cè)量設(shè)備，適用于所有薄膜，包括 OLED 偏振板、層壓緩速膜和帶 IPS 液晶緩速膜的偏振板。 實(shí)現(xiàn)超高Re.60000nm的高速、高精度測(cè)量。 薄膜的層壓狀態(tài)可以通過(guò)“無(wú)剝離、無(wú)損”進(jìn)行測(cè)量。 此外，它還配備了簡(jiǎn)單的軟件和校正功能，通過(guò)重新放置樣品來(lái)糾正偏差，從而輕松實(shí)現(xiàn)高精度測(cè)量。
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塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司江蘇代理大塚電子 OPTM-A1膜厚計(jì) OPTM（Optim）是一種利用顯微分光在微區(qū)域進(jìn)行**反射率測(cè)量，可實(shí)現(xiàn)高精度薄膜厚度和光學(xué)常數(shù)分析的裝置。 涂層膜的厚度和多層膜（如各種薄膜、晶圓和光學(xué)材料）可以無(wú)損或非接觸式測(cè)量。 測(cè)量時(shí)間可以高速測(cè)量 1 秒/點(diǎn)。 此外，它配備了一個(gè)軟件，即使是初學(xué)者可以很容易地分析光學(xué)常數(shù)。
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塔瑪薩崎代理Otsuka大塚多通道光譜儀 MCPD-6800 MCPD-6800 是光譜測(cè)量和分析的基本系統(tǒng)。 即時(shí)測(cè)量光譜，自由組裝測(cè)量光學(xué)系統(tǒng)和多種選項(xiàng)，可根據(jù)各種目的進(jìn)行系統(tǒng)升級(jí)。 測(cè)量波長(zhǎng)范圍有四種類(lèi)型可供選擇。
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多功能多通道光譜探測(cè)器，支持從紫外到近紅外區(qū)域。 光譜測(cè)量可在 5 毫秒內(nèi)進(jìn)行。 標(biāo)準(zhǔn)儀器的光纖支持各種測(cè)量系統(tǒng)，無(wú)需識(shí)別樣品類(lèi)型。 除了顯微分光、光源發(fā)射、透射和反射測(cè)量外，它還與軟件相結(jié)合，支持物體顏色評(píng)估和薄膜厚度測(cè)量。
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它是一種延遲測(cè)量設(shè)備，適用于所有薄膜，包括 OLED 偏振板、層壓緩速膜和帶 IPS 液晶緩速膜的偏振板。 實(shí)現(xiàn)超高Re.60000nm的高速、高精度測(cè)量。 薄膜的層壓狀態(tài)可以通過(guò)“無(wú)剝離、無(wú)損”進(jìn)行測(cè)量。 此外，它還配備了簡(jiǎn)單的軟件和校正功能，通過(guò)重新放置樣品來(lái)糾正偏差，從而輕松實(shí)現(xiàn)高精度測(cè)量。
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特點(diǎn) 使用靜態(tài)光散射法測(cè)量?jī)?yōu)良分子量、慣性半徑和第 二維系數(shù)是可能的。 可以對(duì) Zimm 繪圖、伯利圖、Zimm 平方根圖、單濃度圖和 Debye 圖進(jìn)行各種分析。 系統(tǒng)將詢(xún)問(wèn)您如何安排您的會(huì)議。 可選的桿單元支架可實(shí)現(xiàn)光纖材料（散裝）的優(yōu)良散射強(qiáng)度測(cè)量。
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使用動(dòng)態(tài)光散射方法測(cè)量顆粒大小和顆粒大小分布（顆粒大小和顆粒大小分布）是可能的。 您可以選擇 He-Ne 激光、固態(tài)激光和雙激光規(guī)格。 相關(guān)計(jì)高達(dá) 4096ch，可實(shí)現(xiàn)多模式分析，如聚合物濃縮溶液。 與可選的凝膠旋轉(zhuǎn)單元結(jié)合使用時(shí)，可以分析凝膠狀態(tài)。
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特點(diǎn) 使用動(dòng)態(tài)光散射法測(cè)量顆粒大小和顆粒大小分布（顆粒大小和顆粒大小分布），并使用靜態(tài)光散射方法測(cè)量?jī)?yōu)良分子量、慣性半徑和第 二維真實(shí)系數(shù)。 您可以選擇 He-Ne 激光、固態(tài)激光和雙激光規(guī)格。 采用浸入式細(xì)胞光學(xué)系統(tǒng)，可以高精度地測(cè)量微弱散射的納米級(jí)粒子。 相關(guān)計(jì)高達(dá) 4096ch，可實(shí)現(xiàn)多模式分析，如聚合物濃縮溶液。 與可選的凝膠旋轉(zhuǎn)單元結(jié)合使用時(shí)，可以分析凝膠狀態(tài)。
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散射角度為0.33~45°的測(cè)量*短為10msec※可以測(cè)量 評(píng)估亞微米至數(shù)百微米的結(jié)構(gòu) 使用專(zhuān)用電池測(cè)量溶液樣品 在軟式 Hv 散射和 Vv 散射測(cè)量中輕松切換 桌面類(lèi)型，可安裝在實(shí)驗(yàn)室中 ※不使用HDR功能時(shí)
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一臺(tái)儀器可輕松連續(xù)測(cè)量 5 個(gè)樣本，無(wú)需自動(dòng)采樣器即可實(shí)現(xiàn) 多個(gè)樣本的連續(xù)測(cè)量，也可以通過(guò)改變每個(gè)樣本的條件進(jìn)行測(cè)量。 支持從稀釋到厚系統(tǒng) 標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量時(shí)間 1 分鐘的高速測(cè)量 自動(dòng)調(diào)整從厚系統(tǒng)到稀薄樣品的*佳測(cè)量位置，實(shí)現(xiàn)約 1 分鐘的高速測(cè)量 簡(jiǎn)單易懂的測(cè)量功能（只需單擊一下即可 開(kāi)始測(cè)量），無(wú)需復(fù)雜的操作 內(nèi)置非浸沒(méi)式細(xì)胞塊，無(wú)分包的無(wú)孔， 每個(gè)細(xì)胞都是獨(dú)立的，因此無(wú)需擔(dān)心不成問(wèn)題。 配備 溫度梯度功能，可輕松設(shè)置溫度
